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產(chǎn)品展示
  • OPTM 系列顯微分光膜厚儀

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量,可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間上,能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量,并且搭載了即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。

    型號(hào):
    更新日期:2024-11-28
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